

-
CEDAR思达
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA协和工业
- DIT东日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格玛...
- REVOX莱宝克斯
- CCS 希希爱视
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北阳电机
- SSD西西蒂
- EMIC 爱美克
- TOFCO东富科
-
打印机
- HORIBA崛场
- OTSUKA大冢电子
- MITAKA三鹰
- EYE岩崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨电机
- TOKYO KEISO东...
- takikawa 日本泷...
- Yamato雅马拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 静雄传感器
- marktec码科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山电机
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量计
- KEM京都电子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA东京理化
- ANRITSU安立计器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson诺信
- PISCO匹斯克
- NS精密科学
- NDK 日本电色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚电子
- kotohira琴平工业
- YAMABISHI山菱
- OMRON欧姆龙
- SAKURAI樱井
- UNILAM优尼光
- ONO SOKKI小野测...
-
U-Technology...
- ITON伊藤
- chuhatsu中央发明...
- TOADKK东亚
- HOYA豪雅
- COSMOS日本新宇宙
-
UENO上野精机
- DSK电通产业
-
POLARION普拉瑞
- LUCEO鲁机欧
- ThreeBond三键
-
HAMAMASTU滨松
-
TML东京测器
- SHINAGAWA SO...
- IMV爱睦威
- custom 东洋计量
- yuasa 尤阿萨
- HAYASHI林时计
- SIBATA柴田科学
- SEN日森特殊光源
-
HSK 平原精机
-
SOMA相马光学
- iwata岩田
- MUSASHI武藏
- USHIO牛尾
- ACTUNI阿库图
- ORC欧阿希
- DRY-CABI德瑞卡比
- COSMO科斯莫
-
SHOWASOKKI昭和...
-
CHUBUSEKI中部精...
-
SAMCO萨姆肯
- navitar 纳维塔
- ASKER 高分子计器
- KOSAKA Labor...
- EMIC爱美克
-
OPTEX奥泰斯
- NISSIN日进电子
- TANDD 蒂和日
- FUJI TERMINA...
- TAKASAGO高砂
- TAKIKAWA泷川
- SUGAWARA菅原
- MACOME码控美
-
FURUKAWA古河
-
TSUBOSAKA壺坂
- mitutoyo 三丰
- HAYASHI 林时计
- HOZAN 宝山
- FEI SEM電子顕微鏡
- YUASA尤阿萨
- SAKAGUCHI坂口电...
-
MDCOM 株式会社
-
inflidge 英富丽
- RKC 理化工业
- MORITEX茉丽特
- LIGHTING 光屋L...
- TEITSU帝通
- Excel听音机
- SERIC索莱克
-
FUJI富士化学
-
TONCON拓丰
-
SHINKO新光电子
- Ono Sokki 小...
- 乐彩
- IIJIMA 饭岛电子
- THOMAS托马斯
- JIKCO吉高
- 分散材料研究所
-
NAVITAR纳维塔
- Cho-Onpa 超音波...
- revox 莱宝克斯
- Toki Sangyo ...
- SUPERTOOL世霸
- EIWA荣和
- FUJITERMINAL...
- TOYOX东洋克斯
- AMAYA天谷制作所
-
TSUBAKI NAKA...
- TOPCON 拓普康
- NIKKATO日陶
- ITOH伊藤
- NEWKON新光
- SIBATA柴田
-
TAISEI
-
MITSUI三井电气
-
加热器
日本HORIBA堀场颗粒表征/激光粒度、纳米粒度及Zeta电位、颗粒追踪分析仪
日本HORIBA堀场颗粒表征主要有激光粒度分析仪Partica LA-960V2//激光粒度分析仪Partica mini LA-350//纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000//纳米粒度及Zeta电位分析仪nanoPartica SZ-100V2//Dynamic Image Analysis//ANALYSETTE 28 ImageSizer*//离心式粒度分析仪Partica CENTRIFUGE CN-300
激光粒度分析仪Partica LA-960V2

LA-960V2 秉承 HORIBA 一贯的优异设计**行业方向。其直观的软件、特有的附件和优异的性能将科学认知推向未知世界,是LA系列仪器的突破性演变。
LY-9610 图像单元
图像分析测量范围 | 9 - 1000 μm |
像素尺寸 | 0.73 μm |
拍照速度 | ≧ 4 帧/秒 |
功能 | 等效圆直径直方分布图;形状参数:纵横比*、圆度*、长度*、宽度*;等效圆直径趋势图;捕获图像的后期分析(放大/缩小,测量尺寸)。 |
激光粒度分析仪Partica mini LA-350

HORIBA LA-350 激光粒度分析仪是一款性能高、价格低、体积小巧的粒径分析仪器。LA-350广泛应用于浆料、矿物和造纸行业等多种领域。基于LA系列分析仪的先进光学设计,LA-350实现了高性能、易操作、低维护和高效益的优点。LA-350体积小巧(297 mm x 420 mm),可以有效节省实验室空间。除此之外,LA-350巧妙的设计、高质量的制造确保仪器操作方便、测量范围宽 (0.1-1000 µm)和测量结果准确。
优点
- 操作灵活:通过更广泛的尺寸范围和灵活的软件,轻松适应不断变化的测量需求。
- 操作简单:通过软件中的方法和操作序列可以实现一键操作。
- 快速分析:快速测量和分析立即获得测量结果。
纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000

ViewSizer 3000 使用纳米颗粒追踪分析技术 (NTA) 的*新进展来准确确定颗粒属性!
粒径测量范围:10 nm- 15µm,具体范围取决于样品
ViewSizer 通过多激光纳米颗粒追踪分析技术 (NTA) 得到颗粒粒径及粒径分布。多个激光器可分析同一样品中各种不同尺寸的颗粒,分辨率更高。
浓度测量范围:5 x 106 - 2 x 108 颗/mL
NTA 可用于对测量体积中的颗粒进行计数。该测量方法可校正粒径对有效测量体积的影响。
无交叉污染
样品池可完全拆卸,拆卸后清洗更方便彻底。拆卸、清洁和重新组装比冲洗流通池更快。此外,配备多个样品池可样品测量通量,也可分配给共享(核心)设施中的各个小组
纳米粒度及Zeta电位分析仪nanoPartica SZ-100V2

SZ-100V2 系列具有良好的复杂信息处理能力和学习能力,可快速确定纳米颗粒的特性!
- SZ-100V2 系列具有双光路设计,既可以测量高浓度的样品,如浆体和染料;同时也可以用于测量低浓度样品,如蛋白质、聚合物等。
- 使用单台设备即可表征纳米颗粒的三大参数——粒径、Zeta 电位和分子量
- HORIBA研发的Zeta 电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量(*低容量100 μL)小适用于稀释样品的分析。
- HORIBA研发的Zeta 电位样品池的电极由碳材料制成,该材料不会受到盐溶液等高盐样品的腐蚀。
离心式粒度分析仪Partica CENTRIFUGE CN-300

尺寸

密度梯度溶液配制器(CY-301)
密度梯度溶液配制器可用于帮助制备line-start模式测量所需的密度梯度溶液。放好比色皿按下按钮后可在约 3 分钟内制备密度梯度溶液。
