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  • GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
  • GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
  • GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
  • MR-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
  • MPRT-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
  • HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
  • GC-1 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器 实现真正的黑屏! 把黑色的差异数值化。 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
  • RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备 从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
  • LCF series OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置 OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
  • OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
  • QE-5000 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
  • DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统 快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
  • QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率测量系统 OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
  •  QE-2000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
  • LE series OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器 是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步,在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
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