OTSUKA大冢电子|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪中国代理

OTSUKA大塚电子MCPD-6800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。光谱测量可在短短 5 ms 内完成。标准仪器的光纤允许各种测量系统，而无需指定样品种类。除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚电子MCPD-9800多通道光谱仪中国代理

OTSUKA大塚电子MCPD-9800多通道光谱仪塔玛萨崎电子代理这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。光谱测量可在短短 5 ms 内完成。标准仪器的光纤允许各种测量系统，而无需指定样品种类。除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚电子OPTM-A3光学测量膜厚计代理

OTSUKA大塚电子OPTM-A3光学测量膜厚计塔玛萨崎电子用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。
OTSUKA大塚电子OPTM-A2光学测量膜厚计代理

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OTSUKA大塚电子OPTM-A1光学测量膜厚计代理

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OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计代理

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OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪带AS50塔玛萨崎代理

OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪带AS50塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
OTSUKA大塚电子nanoSAQLA粒径仪塔玛萨崎代理

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OTSUKA大塚电子ELSZneoSE粒径仪塔玛萨崎代理

OTSUKA大塚电子ELSZneoSE粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪塔玛萨崎代理

OTSUKA大塚电子ELSZneo粒径仪塔玛萨崎电子代理ELSZneo通过光散射评估物理性能到一个新的阶段。除了在稀溶液~浓溶液中测量zeta电位和粒径外，还可以测量分子量。作为一项新功能，采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还可用于凝胶的颗粒浓度测量、微流变测量和网络结构分析。
江苏代理OTSUKA大塚电子晶圆测厚系统

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚电子晶圆测厚系统 GS-300实现嵌入晶圆中的布线图案的图案对齐 GS-300满足半导体工艺的高通量需求 GS-300支持凹口对齐功能
OTSUKA大塚电子晶圆非破坏性测厚仪

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子SF-3晶圆非破坏性测厚仪SF-3以超高速实时和高精度测量晶圆和树脂的非接触研磨和抛光过程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
OTSUKA大塚电子晶圆非破坏性测厚仪

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚电子SF-3晶圆非破坏性测厚仪SF-3以超高速实时和高精度测量晶圆和树脂的非接触研磨和抛光过程。
浙江OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪

OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000S塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000S除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000S还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。　
OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理

OTSUKA大塚电子椭圆偏振光谱仪代理 FE-5000塔玛萨崎电子（苏州）有限公司 FE-5000除了可实现高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱外， FE-5000还可以通过实施自动可变测量角度机制来处理所有类型的薄膜。除了传统的旋转分析仪方法外，通过安装自动延迟板分离机构提高了测量精度。　
OTSUKA大塚电子中国代理多通道光谱仪

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚电子MCPD-6800中国代理多通道光谱仪这是一款多通道多通道光谱仪，适用于紫外到近红外范围。除了显微光谱、光源发光、透射和反射测量外，它还可以与软件结合使用，以评估物体的颜色和薄膜厚度。