产品中心
热门品牌展示
产品展示
  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S
  • Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统 阳离子和阴离子等不同的成分可以用一台装置进行分析。 用微量样品可以进行短时间、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
  • DRM-3000 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计 可以根据静光散射法的重量平均分子量决定的dn / dc测量。 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
  • SLS-6500HL OTSUKA大冢- 静态光散射光度计 可以测量使用静光散射法的优良分子量、惯性半径、第二胆量系数。 OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL
  • FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径 FPAR和自动取景器的组合中,关于50检体的试料,可以进行粒子直径的自动测量。 样品量为1ml,可以使用廉价的电筒进行测量。 OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-100
  • FPAR-1000 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统 从稀薄系到浓厚系,在广泛的浓度区域中的粒子直径测量 *适合分析胶体分散液和拉拉力的分散状态。 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
  • FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计 根据固体激光和高灵敏度检测器(冷却型光电子倍增管),可以测量0.5nm~5000 nm的粒子直径和粒子直径分布(粒径·粒径分布)。OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
  • DLS-6500series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计 可测量使用动态光散射法的粒子直径、粒子直径分布(粒径、粒径分布)。 OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series
  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
  • nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA
  • DLS-8000series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计 用动态光散射法的粒子直径·粒子直径分布(粒径·粒径分布)测量和使用静光散射法的优良分子量·惯性半径·第二胆量系数的测量。OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000series
  • ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 电位测量系统 OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S

苏公网安备 32050502000409号