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  • NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢
    可检测单线态氧（活性氧）
  • 量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢
    可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
  • 分子量测量系统ELSZneoOtsuka大冢
    ELSZneo通过光散射评估物理特性 　　　　进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为一项新功能，我们采用了多角度测量来提高粒度分布的分离能力。它还支持粒子浓度测量、微流变学测量和凝胶网络分析。 新型 zeta 电位板单元具有新开发的高盐浓度涂层，可在生理盐水等高盐浓度环境中进行测量。我们还有一系列超痕量细胞单元，可以测量 3 μL 的粒径，扩展了生命科学领域的可能性。
  • Zeta电位分子量测量系统ELSZ-2000ZS大冢Otsuka
    除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性电池进行测量，通过实际测量电渗流，可以实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在 0 至 90°C 的宽温度范围内自动进行温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
  • 日本大冢高感度分光放射亮度仪
    日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度仪HS-1000
  • 日本大冢高速配光测量系统GP-7
    日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7 日本大冢高速配光测量系统GP-7
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
    日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
    日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000 日本大冢分光配光测量系统GP-2000
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
    日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100 日本大冢分光配光测量系统GP-1100
  • 日本大冢分光配光测量系统GP-500
    日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500 日本大冢分光配光测量系统GP-500
  • 日本大冢高速LED光学特性仪
    日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
  • 日本大冢全光束测量系统
    日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 HM-SERIES
  • 日本大冢全光束测量系统
    日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES 日本大冢全光束测量系统 FM-SERIES
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50 日本大冢高速近场配光测量系统RH50
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000 日本大冢高速近场配光测量系统RH1000
  • 日本大冢高速近场配光测量系统
    日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600 日本大冢高速近场配光测量系统RH600
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