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  • 可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
  • 它是一种可以与生产线的控制信号同步,高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息,例如 NG 判断和分类。
  • “光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・ 可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通过专用软件进行测量和照明 电源也是集体控制 这个设备追求到精良的基础照度测量。
  • 评估光源在紫外线区域的辐射。 ・ 通过光谱辐射度测量高精度测量亮度 ・ 支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围 ・ 可以进行光生物 **性评估 它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
  • “紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。 ・从光谱辐照度测量中高精度测量照度 ・ 从紫外线到可见光的宽测量波长范围 ・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用 ・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量 它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。 产品咨询
  • 评估 UV LED 的光分布特性。 ・基于辐射强度/辐照度的光分布评估 ・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度 可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
  • 评估 UV LED 的辐射通量。 ・ 性能更高的紫外线 LED 的输出评估 ・ 温度评估与温度控制单元相结合 支持 紫外线 LED 的 光学特性评估,预计将被**、净化和树脂固化。
  • 它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。 ・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。 ・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性 。繁琐操作要求 测量精度高集成半球,样品组方便 测量大功率激光光源瓦级对应 测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验,满足需求支持。
  • 一种测量照明设备配光特性的装置。 ・使用内部开发的分光镜实现高精度测量! -颜色可以与光分布数据一起测量!- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量! ・可根据配光测量结果进行照度分析!!! -符合标准测量系统!
  • 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
  • 小角激光散射仪PP-1000 激光散射仪 小角PP-1000 小角激光散射仪PP-1000 小角激光散射仪PP-1000
  • 多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 界达电位ELSZ 多检体NANO粒径测量系统 多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
  • OTSUKA大冢界达电位ELSZ 粒径量测系统 OTSUKA大冢界达电位ELSZ

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