KOSAKA小坂|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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无锡KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET8000

台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面
苏州小坂KOSAKA台阶仪微细形状测定机ET200A-D

ET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
江苏KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET200A

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国内总代kosaka小板非接触式探测器

国内总代kosaka小板精密紧凑高性能的测量SE500A株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年创立的公司，也是日本一家发表光学杠杆表面粗糙度计，是一家具有悠久历史与技术背景的业厂商,主要有测定/自动/流体三大部门。其中测定部门为具代表性单位且在日本精密测定业占有一席无法被取代的地位国内总代kosaka小板非接触式探测器总代
kosaka小板表面粗糙仪载物台驱动型

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总代kosaka小板精密紧凑高性能的3D测量

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日本KOSAKA小坂粗糙度仪SE800粗糙仪总代理

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表面粗糙测定仪SE300小坂KOSAKA华东总代

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小坂KOSAKA台阶仪表面粗糙测定仪SE300-30总代

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总代kosaka小板精密紧凑高性能的测量SE500A

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非接触式探测器KOSAKA小坂可测量12~500微米

国内总代非接触式探测器KOSAKA小坂可测量12~500微米非接触式测量允许在不损坏样品的情况下进行测量。紧凑的光学布置可实现内径的表面纹理测量，这在现有的非接触式检测器中是困难的。
载物台驱动表面粗糙度测量KOSAKA总代

国内总代载物台驱动表面粗糙度测量KOSAKA总代这种工作台移动测量机具有很高的直线度测量精度，可以轻松准确地测量小而**的零件。使用数字秤进行数字采样检测器固定移动工作台式
三维表面粗糙度KOSAKA小坂台阶仪3D测量

国内总代三维表面粗糙度KOSAKA小坂台阶仪3D测量可以在**表面粗糙度测量机上添加三维表面粗糙度测量功能。您可以使用“线和表面”深入评估目标表面。
日本KOSAKA小坂粗糙度仪测量SE800国内总代

国内总代日本KOSAKA小坂粗糙度仪测量SE800国内总代它可以根据ISO，JIS，DIN，ASME和BS等国际标准以及每个国家的新旧标准进行测量。为此，可以使用各种滤波器、截止值、测量长度和计算方法。
KOSAKA粗糙度仪SE500A表面粗度测定机

国内总代kosaka小板精密紧凑高性能的测量仪器SE500A它可强力执行表面粗糙度、波纹度测量和阶梯测量。它支持多种参数，可以同时分析多个标准。它是一种精密、紧凑和高性能的测量机，具有高度可扩展性，适用于所有应用。
江苏KOSAKA全自动微形测量机台阶仪3D

江苏总代KOSAKA全自动微形测量机台阶仪3D 可以在**表面粗糙度测量机上添加三维表面粗糙度测量功能。您可以使用“线和表面”深入评估目标表面。