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MITAKA三鹰非接触式全方位轮廓测量MLP-3SP擅长的领域是传统坐标测量机、投影仪和激光显微镜无法实现的。 点自动对焦探头和每个轴的控制,包括旋转,解决了困扰操作员的问题。
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小型激光探针单元MP系列 非接触式测量在任何环境中进行非接触式精密测量 通过将其集成到加工机或在线设备中,可以在机器上进行形状测量,这通常是在单独的过程中进行的,有助于提高超精密加工的精度和质量控制的合理化。
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MITAKA三鹰光器NH-3MAs非接触式三坐标测量机微透镜阵列(MLA)形状光学表征设备它配备了NH系列的所有基本形状测量功能,可以测量透镜和模具的横截面形状,并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-4Ns可NH系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3Ns可NH系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3MA可NH系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-5Ns可NH系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定NH-3SPS可NH系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器 3D面轮廓粗糙度测定PF-60可实现50倍折射率测量速度的扫描自动AF功能和高精度自动XY载物台,以亚微米级测量精度实现数十毫米宽范围的高速测量。 它非常适合测量横截面曲线无法检测到的精密加工零件的翘曲、成型品中的形状缺陷以及摩擦学中磨损和划痕的定量评估。
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MITAKA三鹰光器株式会社成立于1966年,致力于生产、制造高精度光电技术相关产品。总公司坐落于东京都三鹰市,于日本有4处分公司。 自昭和41年5月成立三鹰工业株式会社以来,我们一直以创造和信任为主题。 在空间观测仪器的设计和制造方面,我们利用自成立以来培养的技术能力,在高精度天文望远镜、光学测量设备和医疗设备等各个领域得到了客户的高度评价。 未来,所需的产品将日新月异,但我们将始终响应任何客户需求,不断掌握客户所需产品的变化,并努力开发更好的产品 公司主要产品包括:医疗设备、天文观测系统、航天开发设备、工业测量仪器、新能源。 日本MITAKA三鹰光器非接触式3D轮廓仪, 日本MITAKA三鹰光器粗糙度仪, 在任何环境中进行非接触式精密测量 通过将其集成到加工机或在线设备中,可以在机器上进行形状测量,这通常是在单独的过程中进行的,有助于提高超精密加工的精度和质量控制
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MITAKA三鹰光器微透镜阵列(MLA) 形状光学表征设备 它配备了NH系列的所有基本形状测量功能,可以测量透镜和模具的横截面形状,并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。
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MITAKA三鹰光器 NH-4Ns非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器MITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器NH-5NsMITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性,解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接测量透明物体,例如镜面和透镜
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MITAKA三鹰光器MITAKA三鹰非接触式坐标测量装置NH-3SP系列实现了高精度和易用性, 解决了传统的测量问题。・可以在不损坏测量对象 的情况下进行测量・擅长测量陡坡和大不规则性・直接 测量透明物体,例如镜面和透镜