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  • 产品名称：OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
详情介绍：
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
基于与NIMS共同开发的单粒子诊断法*的测定是可能的。
国立研究开发法人物质·材料研究机构。

与广崎尚登法罗、武田隆史研究员的共同研究

荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。
1从粒子的取出到测量的系统化。
可以测量10μm的粒子。
支持恒温到600°C的温度依赖性测量

OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统

测量项目。
量子效率(量子收获率)。
发光光谱。
激发光谱。
温度特性


単粒子診断法による測定の流れ
蛍光体を合成後、励起光照射   １粒子採取   蛍光体の特性を測定

 

励起・発光スペクトル測定顕微ユニット

励起・発光スペクトル測定顕微ユニット

 

量子効率（量子収率）測定ユニット

量子効率（量子収率）測定ユニット




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