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  • 产品名称：膜厚计FE-300

  • 产品型号： FE-300
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计，可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。 我们采用了一体式的机壳，在主机中容纳了必要的设备，从而实现了稳定的数据采集。 通过以低价获得优良反射率可以分析光学常数。 　
详情介绍：
特殊长度
  • 支持从薄膜到厚膜的各种膜厚
  • 使用反射光谱进行膜厚分析
  • 紧凑且价格低廉，实现了非接触，无破坏的高精度测量
  • 简便的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度
  • 通过峰谷法，频率分析法，非线性*小二乘法，优化方法等，可以进行各种各样的膜厚测量。
  • 通过非线性*小二乘薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。

 

测量项目
  • 优良反射率测量
  • 膜厚分析（10层）
  • 光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）

 

测量目标
  • 功能膜，塑料
    透明导电膜（ITO，银纳米线），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，胶粘剂，胶粘剂，保护膜，硬涂层，抗指纹， 等等。
  • 半导体
    化合物半导体，硅，氧化膜，氮化膜，抗蚀剂，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，蓝宝石等。
  • 表面处理
    DLC涂层，防锈剂，防雾剂等
  • 光学材料
    滤镜，增透膜等
  • FPD
    LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有机膜，密封剂）等
  • 其他
    硬盘，磁带，建筑材料等

 

  • 产品信息
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  • 原则
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  • 规格
    •  
  • 设备配置
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