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  • 产品名称：单粒子荧光诊断系统

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 * 与国立材料科学研究所，弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究
详情介绍：

产品信息

特殊长度
  • 一种高灵敏度系统，可以测量一个荧光粉颗粒的荧光特性。
  • 从1个粒子的提取到测量的系统化
  • 可以测量10μm颗粒
  • 从室温到600°C的温度相关测量是可能的

 

测量项目
  • 量子效率（量子产率）
  • 发射光谱
  • 激发光谱
  • 温度特性

 

单颗粒诊断方法的测量流量
合成荧光粉后，用激发光照射   1个粒子收集   测量荧光粉的特性

 

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