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  • 产品名称：线扫描测厚仪在线式 Otsuka大冢

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的设备。 通过将开创的光谱干涉技术与新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少0.01的测量间隔测量宽度为500mm（使用一台时）的膜厚秒。
详情介绍：
  • 采用线扫描方式，实现全尺寸薄膜检测，无“遗漏”
  • 只有专门从事膜厚测量的制造商才能提供的**支持
  • 可以进行高速高精度的测量
  • 使用抗抖动的光学系统
  • 宽样品（TD方向*大可测量10m）
  • 硬件和软件的原创设计
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