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  • 产品名称:膜厚测量系统 FE-3700 / 5700 Otsuka大冢

  • 产品型号:
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
评估和分析不断发展的 FPD 制造过程中的各种薄膜
详情介绍:
可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外,它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。
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