OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000S|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000S
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

*新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量增加了广泛的分子量测量和分析功能支持悬浮高浓度样品的粒度测量非常适合在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、制药、医药等领域中，不仅涉及微粒子，而且还涉及薄膜、平板等表面科学的基础研究和应用研究。

详情介绍：

规格

测量原理	粒度	动态光散射法（光子相关法）
	分子量	静态光散射法
光学系统	粒度	零差光学系统
	分子量	零差光学系统
光源	大功率半导体激光器
探测器	高灵敏度 APD
细胞	对于粒度/分子量：方形电池
温度	0～90℃（带梯度功能）
电源	100V±10% 250VA
尺寸（宽高）	380 (W) x 600 (D) x 210 (H)
重量	22 公斤