OTSUKA多检体纳米粒径量测系统 nanoSAQLA|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：OTSUKA多检体纳米粒径量测系统 nanoSAQLA
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

一台5检体轻松连续量测一键测定简易功能对应低浓度到高浓度标准测定时间一分高速测定非浸入式、非分注式连续量测搭载温度梯度(0 ~ 90℃) 对应多国语言操作介面(繁体中文、日文、英文、简体中文、韩文

详情介绍：

规格

模型	多样品纳米粒径测量系统
测量原理	动态光散射法（光子相关法）
光源	高功率半导体激光器（660nm，70mW）^*1
探测器	高灵敏度 APD
连续测量	*多 5 个样本
测量范围	0.6nm ~ 10μm
浓度范围	0.00001-40% ^{* 2}
温度范围	0～90℃（带温度梯度功能）^*3
样品容量	方形池：1.2 mL ~，微量池：20 μL ~
尺寸	W240 X D480 X H375 毫米
能量消耗	交流 100-240V 50 / 60Hz, 250VA
重量	约 18 公斤
软件	平均粒径分析（累积法）
	粒度分布分析（Marquardt法/Contin法/NNLS/单峰法）
	粒度分布改写
	逆相关函数/残差图
	粒度监视器
	粒径显示范围（0.1 至¹⁰⁶ nm）
	分子量计算功能
	21 CFR Part 11 兼容^{* 4}
选项	微量池（兼容 20 μL），荧光截止滤光片