Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。

详情介绍：

江苏地区代理Otsuka大塚电子 RETS延迟测量设备RETS-100nx

规格

手势

类型表达式	延迟测量设备 RETS-100nx
测量项目（薄膜、光学材料）	延迟（波长色散）、慢轴、Rth^1，三维折射率^1等
测量项目（偏振板）	吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等
测量项目（液晶电池）	细胞间隙，预倾角^*1、扭曲角、取向角等
延迟测量范围	0 ～ 60,000nm
延迟可重复性	3 μ≦0.08nm（晶体波长板约 600nm）
细胞间隙测量范围	0 到 600μm（μn = 0.1）
细胞间隙可重复性	3π≦0.005μm（单元间隙约3μm、Δn=0.1时）
轴检测可重复性	3° ≦0.08° （晶体波长板约 600nm）
测量波长范围	400 至 800nm（可选）
探测器	多通道光谱仪
测量直径	φ2mm （标准规格）
光源	100W 卤素灯
数据处理部	个人计算机、显示器
舞台尺寸：标准	100mm × 100mm（固定级）
选项	超高延迟测量、多层测量、轴角度校正功能、自动 XY 级、自动倾斜旋转阶段

*1 需要自动倾斜旋转阶段（可选）

特点

高精度测量，因为它是专有的光谱仪

■ 高精度

通过多波长测量实现

在短波长下，可以确定近似值的结果，如难以测量的 lamb标准 / 4，lamb标准 / 2。结果不受薄膜厚度干扰波形的影响。
高精度 <高精度原因>
使用独特的高性能多通道光谱仪
，获得大量的透射率信息，可实现
高精度测量（获得的透射率信息约为 500 波长，是其他公司产品的 50 倍）