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  • 产品名称：代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx VR测试仪 Re测试 相位延迟测试仪 大塚电子RETS
详情介绍：

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理、直营各日本品牌工业产品，联系人：张小姐

联系电话：15902189399  

延迟测量设备 RETS-100nx 新

它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。
实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。
薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。
此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。

产品信息

特点
高精度测量，因为它是专有的光谱仪

■ 高精度


通过多波长测量实现

在短波长下，可以确定近似值的结果，如难以测量的 lamb标准 / 4，lamb标准 / 2。 结果不受薄膜厚度干扰波形的影响。
高精度 <高精度原因>
使用独特的高性能多通道光谱仪
， 获得大量的透射率信息 ， 可实现
高精度测量 （ 获得的透射率信息约为 500 波长，是其他公司产品的 50 倍）

 

■ 范围广（延迟范围：0~60000nm）

■ 范围广的测量范围 同强度也能根据其他波长数据进行运算

 

■ 可知延迟波长色散形状

■ 可测量可知延迟波长色散形状的逆色散样品

超高延迟测量 - 超双折射薄膜可高速、高精度地测量 -

■ 高延迟
■ 高延迟测量 即使这么高的延迟，也可以用自己的算法进行无参数分析。
支持超高 Re.60000nm

 

多层测量 - 无需剥离即可测量各种薄膜的层压状态，

多层测量 不需要剥离，可以直接测量

 

轴角度校正功能 - 即使样品安装偏移，也能轻松测量可重复性 -

■ 将样品重新放置10次，比较结果无角度校正
[ 样品： 相位差膜R85 ]

将样本重新放置 10 次，结果无角度校正，无比较，无校正：重新放置偏差：0.13，校正：重新校正变化：0.013 或更少

 

简单软件 - 显著缩短测量和处理时间。 可操作性大幅UP-

简单的软件，你可以完成所有操作在一个屏幕上！

规格

手势
类型表达式 延迟测量设备 RETS-100nx
测量项目（薄膜、光学材料） 延迟（波长色散）、慢轴、Rth*1，三维折射率*1等
测量项目（偏振板） 吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透射率等
测量项目（液晶电池） 细胞间隙，预倾角*1、扭曲角、取向角等
延迟测量范围  0 ～ 60,000nm
延迟可重复性 3 μ≦0.08nm（晶体波长板约 600nm）
细胞间隙测量范围 0 到 600μm（μn = 0.1）
细胞间隙可重复性 3π≦0.005μm（单元间隙约3μm、Δn=0.1时）
轴检测可重复性 3° ≦0.08° （晶体波长板约 600nm）
测量波长范围 400 至 800nm（可选）
探测器 多通道光谱仪
测量直径 φ2mm （标准规格）
 光源 100W 卤素灯
数据处理部 个人计算机、显示器
舞台尺寸：标准 100mm × 100mm（固定级）
选项 超高延迟测量
、多层测量
、轴角度校正功能
、自动 XY 级
、自动倾斜旋转阶段

*1 需要自动倾斜旋转阶段（可选）

光学

特点
固定级 [ 选项 ： 轴角度校正功能 ]

固定阶段

 

自动倾斜旋转阶段 [ 选项 ]

自动倾斜旋转台

 

自动 XY 舞台 [ 选项 ]

自动 XY 级

代理AR测试仪Otsuka大塚RETS-100nx

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