江苏地区代理Otsuka大塚VR测试仪RE-200|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：江苏地区代理Otsuka大塚VR测试仪RE-200
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

Otsuka大塚VR测试仪RE-200 偏光片RTH AR测试仪大塚电子RETS

详情介绍：

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理、直营各日本品牌工业产品，联系人：张小姐

联系电话：15902189399

产品信息

特点

低（残余）延迟测量从0nm
在光轴检测的同时，可以高速测量延迟（Re.）（世界上
*快的处理速度在0.1秒以下）
由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
设置的测量项目更少，测量更简单
测量波长为550nm，以及各种波长
Rth 测量，全
向角度测量（需要可选的自动旋转倾斜夹具）
与拉伸测试仪结合使用时，可以在
薄膜的偏振特性的同时进行光弹性评估（该系统是定制的）。）

测量项目

延迟（ρ[deg.]， Re[nm]）
主轴方位角（θ[deg.]）
椭圆比（ε）、方位角（γ）
三维折射率（NxNyNz）

测量对象

缓速膜、偏振膜、椭圆膜、视角改善膜、各种功能膜
透明、各向异性（玻璃应变、应变等）

什么是 RE-200？

RE-200 将由光子晶体元件（偏振元件）和 CCD 摄像机组成的偏振测量模块与透射偏振光学系统相结合，可实现快速、高精度的相位差（延迟）和主轴方位角测量。由于偏振强度模式是在 CCD 摄像机的一次拍摄中获得的，因此没有偏振器旋转机制，整个系统配置紧凑，即使在长时间使用时也能保持稳定的性能。

拟合傅立叶变换以计算椭圆率ε方位角γ。

手势

类型表达式	RE series
样本大小	小 10×10mm 至大 100×100mm
测量波长	550nm （标准规格）*1
延迟测量范围	约0nm~约1μm
轴检测重复精度	0.05°（at 3σ） ※2
探测器	偏振测量模块
测量点直径	2.2mm×2.2mm
光源	100W 卤素灯或 LED 光源
主体和重量	300 （W） × 560 （H） ×430 （D）毫米，约 20 kg