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  • 产品名称：OTSUKA大塚 膜厚监测仪FE-300

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo OTSUKA大塚 膜厚监测仪FE-300
详情介绍：


产品信息

特征
  • 兼容从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度
  • 使用反射光谱分析薄膜厚度
  • 紧凑、低成本、非接触式、无损和高精度测量
  • 易于设置条件和测量操作！ 任何人都可以轻松测量薄膜厚度
  • 峰谷法、频率分析法、非线性*小二乘法、优化法等可实现多种薄膜厚度测量
  • 非线性*小二乘膜厚分析算法可实现光学常数分析（n：折射率，k：衰减计数）

 

测量项目
  • **反射率测量
  • 薄膜厚度分析（10层）
  • 光学常数分析（n：折射率，k：衰减计数）

 

测量对象
  • 功能膜、塑料：
    透明导电膜（ITO、银纳米线）、阻滞膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、胶粘剂、保护膜、硬涂层、防指纹剂等。
  • 半导体 化合物半导体
    、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蚀剂、碳化硅、砷化镓、氮化镓、镓、蓝宝石等
  • 表面处理
    DLC涂层、防锈剂、防雾剂等
  • 光学材料
    滤光片、增透膜等
  • FPD
    液晶显示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有机膜，密封胶）等。
  • 其他
    硬盘、磁带、建筑材料等




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