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  • 产品名称：总代日本HORIBA纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2

  • 产品型号： SZ-100-S2
  • 产品厂商：HORIBA堀场
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简单介绍：
总代日本HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，这是为了能够从原子和分子水平上控制物质的尺寸，从而获得性能更好的材料与产品。组件的小型化——即纳米级控制可以有效实现更快的测量速度、更好的设备性能以及更低的设备运行能耗。纳米技术在日常生活中的诸如食品、化妆品和生命科学等很多领域发挥着关键作用。
详情介绍：

总代日本HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2  国内各区域供应

总代日本HORIBA崛场纳米颗粒分析仪粒度仪SZ-100-S2 

粒径测量范围0.3 nm ~ 10 µm

SZ-100V2 系列采用动态光散射 (DLS) 原理测量颗粒粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量，该系列可准确测量低至ppm 级低浓度、高至百分之几十的高浓度样品。可使用市售的样品池，也可实现对小体积样品的测量。

Zeta 电位测量范围– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta电位样品池测量Zeta 电位值只需样品100 μL，通过Zeta电位可预测和控制样品的分散稳定性。Zeta 电位值越高，则意味着分散体系越稳定，这对于产品配方的研究工作具有重大的意义。

分子量测量范围1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通过测量不同浓度下的静态光散射强度并通过德拜记点法计算样品的**分子量 (Mw) 和**维里系数 (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的复杂信息处理能力和学习能力，可快速确定纳米颗粒的特性！

  • SZ-100V2 系列具有双光路设计，既可以测量高浓度的样品，如浆体和染料；同时也可以用于测量低浓度样品，如蛋白质、聚合物等。

  • 使用单台设备即可表征纳米颗粒的三大参数——粒径、Zeta 电位和分子量

  • HORIBA研发的Zeta 电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量（*低容量100 μL）小适用于稀释样品的分析。

  • HORIBA研发的Zeta 电位样品池的电极由碳材料制成，该材料不会受到盐溶液等高盐样品的腐蚀。

SZ-100-S2 测量规格

型号 SZ-100-S2（**粒径和分子量测量）
测量原理 粒度测量：动态光散射
分子量测量：德拜记点法（静态散射光强度）
测量范围 粒径：0.3 nm 至 10 μm
分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜记点）
                             540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
*大样品浓度

40%*2

粒度测量精度

以100 nm的聚苯乙烯乳胶球体为例，其测量精度为 ±2% （不包括标准颗粒本身的变化）

测量角度

90°和173°（自动或手动选择）

样品池 比色皿
测量时间 常规条件下约 2分钟（从测量开始到显示粒度测量结果）
所需样品量 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而异）
分散剂 水、乙醇、有机溶剂

尺寸（毫米）


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