LEIMAC雷马克|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理leimac雷马克近地天顶照明IDDB-KH系列

明亮的近地天地系列变得轻盈和新出现！通过使用半球形的内表面反射照射均匀的漫射光，可以获得均匀的图像，没有阴影，抑制在直射光（如不均匀和光泽表面）中可能发生的光晕。具有曲面和台阶的工件可以捕获为平面图像。与IDDA-KH系列相比，重量减轻了MAX40%。它非常适合用于机器人视觉，由于重量轻，携带重量有限。
代理leimac雷马克高亮度芯片 LED表面照明IHMA

从 IHM 进一步演变的高亮度透射照明芯片式透射照明，价格低，输出大，重量轻。型号阵容包括 5 种尺寸，从小到大，方形近似形状，以及 4 种尺寸的矩形形状，共 9 种尺寸。发光颜色为白色、红色和蓝色。
代理leimac雷马克方形边缘照明IFLB 系列

薄、节能的均匀表面发光照明表面照明厚度为 7.2 至 8.2 mm。能够在宽度方向上*大限度地取得发光区域，即使在设备等较窄的区域，也可以确保较宽的发光区域。它可用于各种外部检查作为背光照明。如果 IFLB 系列中的亮度不足，考虑高亮度芯片 LED 表面照明 IHMA 系列和 IDHM 系列。
代理leimac雷马克近地天平环照明IHRB 系列

明亮的近地天地系列变得轻盈和新出现！ NEO 环照明，在平面上安装电源 LED。由于其方向性广泛，可以照亮比传统产品更宽的区域，因此非常适合大型工件检测。与 IHRA 系列相比，重量减轻了 MAX20%。它非常适合用于机器人视觉，由于重量轻，携带重量有限。
代理leimac雷马克全彩照明 IDDA KH-RGB系列

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
代理leimac雷马克全彩照明IMAR-RGB系列

根据检测目的自由混合发光颜色在一台照明中复合安装红色、蓝色和绿色 LED。红、蓝、绿三波长复合，成为可见光的全彩照明，可覆盖非常宽的波长范围。由于可以独立调光每个波长，因此可以实现微妙的复合照明颜色。
代理leimac雷马克伪同轴圆顶照明IDUB 系列

模拟同轴圆顶辐照同轴投影照明与反射圆顶照明集成。圆顶形状的多角度照明+同轴落射照明的正反射也使立体工件可均匀照射。圆顶照明和同轴投影照明允许单独的调光。
leimac雷马克窄角配光伪同轴落射照明IFVB

模拟同轴投影照明，实现高照度、高均匀性、紧凑的外壳半镜可以照射到与相机轴相同的轴上。与 IFVA 系列相比，半镜的改进大大提高了分辨率。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
代理leimac雷马克同轴落射照明IFVA-ST 系列

直模拟同轴落射照明，实现高光、高均匀度和紧凑的外壳使用半透半反镜，可以在垂直于摄像机轴的轴上进行照射和成像。与 IFVA 相比，在高度方向上的空间更少，从而节省空间。由于可以进行正反射检查，因此对表面细划痕的检查、打印和字符检查有效。可用于各种应用，如电路板图案检查和连接器引脚间距测量。
代理日本leimac雷马克照明设备IDBC-LSR 系列

实现惊人的亮度线传感器摄像机照明，在自然空气冷却下提供业界**的光量。提供两种类型：高亮度类型（IDBC-LSR 系列）和高均匀类型（IDBC-LSR-S 系列：90 万 lx），可广泛漫射光。注）所发布的照度为参考值，不保证产品。尺寸为高亮度型/高均匀型，以100mm为单位，系列尺寸可达1，500mm
leimac雷马克B'C 环照明IHR-LE90L-AR

B'C 线照明 IDBA-LE 系列的环形照明，适用于各种应用，如大型工件的打印检测。与 B'C 线照明一样，我们提供两种配光特性，以满足您的应用需求。由于其设计具有抗振动和抗冲击性，因此可以安装在机器人臂等移动部件上。
日本leimac雷马克IFR-K7420_HV 无阴影环照明

均匀照射光泽和不均匀工件使用导光板的间接光照明。由于 LED 元件不能直接在发光表面上看到，因此可以均匀地照射有光泽和不规则的工件。
日本leimac雷马克无影环照明IFR-K150_HV

均匀照射光泽和不均匀工件使用导光板的间接光照明。由于 LED 元件不能直接在发光表面上看到，因此可以均匀地照射有光泽和不规则的工件。
日本leimac雷马克超反射紫外照明IHV-20AUV-365

比可见光更清晰的检测非常适合在可见光下进行精细划痕测试，使用荧光粉激发检查胶粘剂的涂层状态，以及检查灰尘和其他异物。波长包括365nm、375nm、405nm等多个波长。除了此列表外，还提供波长。也可以生产与可见光形状相同的辐照。 UV-405NR 的峰值波长为 405nm，即使在可见光摄像机中也具有灵敏度，因此无需提供昂贵的紫外相机和镜头。
日本leimac雷马克伪同轴落射照明IFV-C40UV-405NR

比可见光更清晰的检测非常适合在可见光下进行精细划痕测试，使用荧光粉激发检查胶粘剂的涂层状态，以及检查灰尘和其他异物。波长包括365nm、375nm、405nm等多个波长。除了此列表外，还提供波长。也可以生产与可见光形状相同的辐照。 UV-405NR 的峰值波长为 405nm，即使在可见光摄像机中也具有灵敏度，因此无需提供昂贵的紫外相机和镜头。
日本leimac雷马克直接条形照明IDBA-C50/15AUV-375

比可见光更清晰的检测非常适合在可见光下进行精细划痕测试，使用荧光粉激发检查胶粘剂的涂层状态，以及检查灰尘和其他异物。波长包括365nm、375nm、405nm等多个波长。除了此列表外，还提供波长。也可以生产与可见光形状相同的辐照。 UV-405NR 的峰值波长为 405nm，即使在可见光摄像机中也具有灵敏度，因此无需提供昂贵的紫外相机和镜头。