产品中心
热门品牌展示
产品展示
  • 苏州总代KOSAKA全自动微形测量机台阶仪ET8000这款可以高精度自动测量样品尺寸高达 2200×2600 mm 的大型工件。 还有一个加载/卸载样品的选项。全自动用于测量大型工件。 *大样本量2200×2600毫米,测量范围X:10毫米 Y:10毫米
  • 江苏供应日本小坂台阶仪ET-4000M全新这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
  • 国内总代ET4000L全新日本小坂KOSAKA台阶仪 这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
  • 国内总代KOSAKA多功能全自动微形测量机台阶仪ET4000A这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
  • 国内总代小坂台阶仪膜厚探针接触式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
  • 总代小坂台阶仪kosakalab微小形状测量机 ET200A-D 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
  • 国内总代台阶仪ET200A 小坂Kosaka膜厚测量仪探针表面轮廓 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
  • KOSAKA小坂玻璃破碎机KB-160F小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂玻璃破碎机KB-150F研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂玻璃划线器(多头型)KS-260F小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂玻璃划线器(多头型)KS-250F小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 单头型KOSAKA小坂制造设备玻璃划线器KS-160F小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂制造设备玻璃划线器单头型KS-150F小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 总代KOSAKA小坂制造设备树脂涂装设备小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂制造设备芯片键合机KFA-11小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂制造设备芯片键合机TR-100小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 活塞直动式一次压力调节阀VP-1小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂离心泵CHS型消防泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CSKT型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CSS型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CVB型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CHS型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CHP型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CHD型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CHM型小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 流体设备缠绕泵CHM-B小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 无密封泵磁力耦合泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • API676兼容泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 食品泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 三螺杆泵三轴泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 双螺杆泵双轴泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 螺杆泵单轴泵小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • BeakMaster系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • VSC 系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • VMC系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • FP3030小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • FP系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC5200小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600A小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600B小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600A小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3300P小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC1850P小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2700HFF小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2500HF小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2700H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2500H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2150小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC1850H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC1650H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • 小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • KOSAKA小坂小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 小坂研究所(KOSAKA)SE500A-18/D是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
  • 日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D株式会社小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)探针接触

苏公网安备 32050502000409号