KOSAKA小坂台阶仪|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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表面粗度轮廓形状测定仪KOSAKA小坂SEF580A-G18/D

KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
小坂KOSAKA表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A-M50

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表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A小坂KOSAKA

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苏州轮廓形状测定仪定机EF550A-M58D小坂KOSAKA

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代理小坂KOSAKA轮廓形状测定仪定机EF550A-M58

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浙江台轮廓形状测定仪定机EF550A小坂KOSAKA

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江苏KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-18/D

小坂研究所（KOSAKA）SE500A-18/D是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D

日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触
代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A

代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。
代理微细形状测定机ET5100KOSAKA小坂台阶仪

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无锡KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET8000

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杭州微细形状测定机ET1000KOSAKA小坂台阶仪

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安徽微细形状测定机KOSAKA小坂台阶仪ET4000M

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南京KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET4000L

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浙江KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET4000A

浙江KOSAKA小坂台阶仪微细形状测定机ET4000A台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面
代理台阶仪微细形状测定机KOSAKA小坂ET200A-3D

代理台阶仪微细形状测定机KOSAKA小坂ET200A-3DET200A基于Windows 操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层、平板显示、触摸屏等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。