TONCON拓丰|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

本产品配备FIX模式，可自动优化配置，实现约0.4秒的超高速测量。这个测量时间是我们以前的型号的一半。 SR-LEDH将满足高精度和高速测量的严格要求，适用于LED模组生产线的质量控制。特征 ■ 通过局域网进行高速测量（0.4秒），具有FIX模式。 ■ 通过我们新的**光学系统降低了灵敏度的均匀度。 ■ 机身超薄，适用于加工线和系统设备。 ■ 内附原装软件开发工具包。（软件开发工具包） * 软件开发工具包（SDK）该开发工具包为客户开发LAN通信软件提供了方便的工具。 SDK由开发LAN通信软件所需的头文件，库，示例程序组成。您可以通过调用模块中的库函数来开发网络编程（套接字通信编程）。客户还可以使用网络编程开发软件，而无需SDK。可以通过网络中的PC控制SR-LEDH，也可以通过一台PC控制多个SR-LEDH。返回页首主要用途 ■ LE
塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

该产品是 Topcon 光谱辐射计中的一款新型**型号，能够测量从 0.0005cd/m² 的超低亮度到 5，000，000cd/m² 的超高亮度的宽动态范围。除了新的FIX模式外，SR-LEDW还自动计算*佳测量设置，并缩短连续测量同一物体的测量时间。该产品不仅可以在设计/开发部门高速，高精度地用于LED模组生产线的质量控制。
塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

该产品是 Topcon 光谱辐射计中的一款新型**型号，能够测量从 0.0005cd/m² 的超低亮度到 5，000，000cd/m² 的超高亮度的宽动态范围。除了新的FIX模式外，SR-LEDW还自动计算*佳测量设置，并缩短连续测量同一物体的测量时间。该产品不仅可以在设计/开发部门高速，高精度地用于LED模组生产线的质量控制。半波段宽度为5nm或更小。
塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

大纲 SR-5A是新一代光谱仪，可以测量从超低亮度到超高亮度的高灵敏度和高速度。测量角度1°下的测量范围是超低亮度从0.0005 cd /m²扩展到500，000，000 cd / m²的高亮度范围。 SR-5A无需使用外部ND滤光片即可测量超高亮度LED。 SR-5A通过更新光学系统和改进内部系统算法，缩短了测量时间。通过采用大尺寸彩色触摸屏，显著提高了可用性。
塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

大纲 2D光谱辐射计是采用1nm光谱技术进行高精度和**测量，具有强大的数据分析软件。通过分析包含频谱等详细信息的图像，可以对各种对象和目的进行传感。
塔玛萨崎TONCON拓丰光谱仪

2D光谱辐射计是采用1nm光谱技术进行高精度和**测量，具有强大的数据分析软件。通过非破坏和非接触，一种光谱仪仪器，有助于保持各种产品的高质量，因为它可以以500万像素，170亿cd / m为单位评估光源或物体的光谱特性2和1nm，如光源的波长特性，材料的光谱透射率特性。 2D光谱辐射计SR-5100分析物体的独特光谱，不仅可以用于滤光片方法成像色度计或人眼无法评估的特征和发光产品，还可以用于物体的反射光和模拟评估。它可用于广泛的行业和应用，包括正在加速开发的微型/迷你LED显示屏，相关材料，材料的纹理，护肤品，纺织印染，景观等。