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  • EC2150圆度和圆柱形测量机KOSAKA小坂总代它是一种任何人都可以轻松使用的高精度圆度和圆柱形测量机。旨在减轻操作员的负担,安装空间减少了 30%。具有自动定心/倾斜功能的高精度转台分析单元可以在多个窗口中显示数据表。通过操纵杆和自动停止开关轻松操作无需 PC 机架,节省安装空间压力表放在前面,便于确认气压。灵活的显示器臂可让您将显示器自由移动到易于查看的位置
  • 浙江总代KOSAKA小坂EC1850H圆度和圆柱形测量配备高精度自动工作台,从点滴/定心到数据表打印的全自动测量机。心脏打开和倾斜调节是全自动的。自动测量。
  • EC1650H圆度圆柱形测量KOSAKA小坂华东总代合理的EC1650H充满**性的测量“高精度和快速”高分辨率滤波器采用2CR普通型、2CR和高尚相位补偿型。
  • 国内总代KOSAKA小坂台阶仪圆度和圆柱形测量机 EC1550H采用高精度旋转精密设计,具有强调可操作性的圆柱形评估功能的台式。全姿态检测器。垂直轴运动的精度保证。EC1550HA・・・可以测量环槽波纹度。
  • 国内总代KOSAKA小坂台阶仪圆度和圆柱形测量机EC600它结构紧凑,适合生产现场,无需PC即可轻松操作和快速测量。心脏打开/倾斜调节支持功能使任何人都可以轻松操作大设置仪表和调整定心时自动放大倍率增加R轴和Z轴是电动的,R轴配备了自动停止功能。可连接通用电脑(可选)
  • EC5200小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600A小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600B小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3600A小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC3300P小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC1850P小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2700HFF小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2500HF小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2700H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2500H小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
  • EC2150小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
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