表面粗糙度测量机|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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小坂KOSAKA表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A-M50

KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A小坂KOSAKA

KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
江苏KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-18/D

小坂研究所（KOSAKA）SE500A-18/D是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用
日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D

日本小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A-58/D株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触
代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A

代理KOSAKA小坂台阶仪表面粗度测定仪SE500A株式会社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。