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国内总代KOSAKA小坂微细形状测定机台阶仪ET8000可以高精度自动测量样品尺寸高达 2200×2600 mm 的大型工件。 还有一个加载/卸载样品的选项。
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国内总代全新KOSAKA小坂ET4000M微细形状测定机台阶仪 苏州有售这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。
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国内总代KOSAKA 台阶仪探针接触轮廓仪微细测定ET4000L 苏州有售这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。
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国内总代KOSAKA小坂探针式轮廓仪ET4000A 苏州有售这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。
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国内总代 KOSAKA小坂膜厚仪探针接触式台阶仪ET200A-3D能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨 损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A 配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD 原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
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国内总代KOSAKA探针接触式台阶仪 2/3 维表面粗度ET200A-D。它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。
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国内总代日本小坂KOSAKA台阶仪微细形状测定机ET200AET200A 能**可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨 损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 ET200A 配备了各种型号探针,提供了通过过程控制接触力和垂直范围的探头,彩色CCD 原位采集设计,可直接观察到探针工作时的状态,更方便准确的定位测试区域。
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苏州总代KOSAKA全自动微形测量机台阶仪ET8000这款可以高精度自动测量样品尺寸高达 2200×2600 mm 的大型工件。 还有一个加载/卸载样品的选项。全自动用于测量大型工件。 *大样本量2200×2600毫米,测量范围X:10毫米 Y:10毫米
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江苏供应日本小坂台阶仪ET-4000M全新这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
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国内总代ET4000L全新日本小坂KOSAKA台阶仪 这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
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国内总代KOSAKA多功能全自动微形测量机台阶仪ET4000A这款全自动微形状测量机具有出色的精度、稳定性和功能性,是测量 FPD 基板、晶圆、硬盘等的精细形状、阶差、粗糙度等的理想选择。 此外,您可以从多种型号中进行选择,以满足您的应用需求。ET4000A: 多功能全自动微形测量机ET4000L: 全自动微形测量机,可处理大尺寸ET4000M:合理高性能的通用微形测量机
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国内总代小坂台阶仪膜厚探针接触式高度ET200A-3D 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
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总代小坂台阶仪kosakalab微小形状测量机 ET200A-D 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
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国内总代台阶仪ET200A 小坂Kosaka膜厚测量仪探针表面轮廓 它是2D表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择,可实现高精度,高分辨率和出色的稳定性,并且还支持测量力小的软样品表面。ET200A:表面粗糙度分析和阶梯测量的理想选择ET200A-D:配备电动Y轴单元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和阶跃差测量的理想选择
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FP3030小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。
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FP系列小坂研究所(KOSAKA)是于1950年创立,日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計,具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供**的形貌分析,有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。