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  • 产品名称:OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S

  • 产品型号:ELSZ-2000S.
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
详情介绍:
ELSZ-2000S

   OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统

除以往的稀薄溶液~浓厚溶液中的粒子直径测量,也可以测量分子量。
粒子直径测量范围(0.6nm~10μm),浓度范围(0.1.2%~40%)对应。
另外,在0~90度的广泛的温度范围内,可以进行自动温度凹陷测量的变性·相转移温度解析。

OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S

特长:

实现*新型高灵敏度APD的灵敏度和测量时间缩短

自动温度梯度测量更变性·相变温度解析可能

0~90℃的温度范围宽测量

大范围的分子量测定及分析功能

悬浮的高浓度样品的粒子直径测量对应


用途:

在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、药学、医学领域等方面,不仅仅是微粒子,*适合处理胶卷和平板型试料的表面科学的基础研究和应用研究。

新功能材料领域

燃料电池相关(碳纳米管、泥管、功能性膜、催化剂、纳米金属)

与生物纳米相关(纳米胶囊、伊丽塔、DDS、生物纳米粒子)、纳米泡沫等

陶瓷彩色材料工业领域

陶瓷(硅、氧化钛、氧化钛等)

无机佐尔的表面改质·分散・凝集控制

颜料(碳素黑有机颜料)的分散・凝集控制

拉力状样本

彩色滤镜

浮游选矿物的捕获材料吸附的研究



半导体领域

对硅晶片表面的异物附着的机制阐明

研磨剂、添加剂和晶片表面相互作用的研究

CMPIC



高分子化学工业领域

布莱斯(涂费・粘合剂)的分散・凝集控制、拉特克斯的表面改质(医药用・工业用)

高分子电解质(聚氨酸氨酸等)的功能性的研究,功能性纳米粒子

研究纸、纸浆的制纸工程控制和纸浆添加剂的研究



医药品工业领域

美容(食品・香料・医疗・化妆品)的分散・凝集控制、蛋白质的功能性

反射镜的分散・凝集控制、界面活性剂(米袋)的功能性


仕 様

測定原理 粒子径 動的光散乱法(光子相関法)
分子量 静的光散乱法
光学系 粒子径 ホモダイン光学系
分子量 ホモダイン光学系
光源 高出力半導体レーザー
検出器 高感度APD
セル 粒子径/分子量用:角セル
温度 0 ~ 90℃ (グラジエント機能あり)
電源 100V ± 10% 250VA
寸法(WDH) 380(W)×600(D)×210(H)
重量 約 22 kg

 

測定項目
ゼータ電位 -200 ~ 200 mV
電気移動度 -20×10 -4 ~ 20×10 -4 cm2/V・s
粒子径 0.6 nm ~ 10000 nm
分子量 360 ~ 2000×104

●測定範囲

測定温度範囲 0 ~ 90℃
測定濃度範囲 粒子径:0.00001 % (0.1ppm) ~ 40 % *1

*1(Latex112nm: 0.00001 ~ 10%、タウロコール酸: ~ 40%)

 
標準セルについて
粒子径/分子量セルユニット

市販品の角セルでの粒子径・分子量測定に対応したセルユニット。
ガラス・ディスポ・微量セルが使用可能。
粒子径分子量セルユニット


ガラスセル(分子量・粒径用セル)



原理

粒子径測定原理:動的光散乱法(光子相関法)

溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン運動をしているため、この粒子に光を照射した時に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン運動をしているため、この粒子に光を照射した時に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。

解析の流れ

分子量測定原理:静的光散乱法(光子相関法)

静的光散乱法は、簡便に絶対分子量を測定する手法として知られています。
測定原理は、溶液中の分子に光を照射し、得られる散乱光の絶対値から分子量を求めています。即ち、大きな分子からは強い散乱光が、小さな分子からは弱い散乱光が得られる現象を利用しています。
実際には濃度によっても得られる散乱光強度は異なるため、数点の異なる濃度の溶液の散乱強度を実測し、次式に基づいて横軸に濃度を、縦軸に散乱強度の逆数に相当するKc/R(θ)をプロットします。これをDebyeプロットと呼びます。
濃度ゼロへ外挿した切片(c=0)の逆数から分子量Mwを、初期勾配より**ビリアル係数A2が求められます。

分子量が大きな分子は、散乱強度に角度依存性が現れるため、異なる散乱角度(θ)での散乱強度を測定することで分子量の測定精度向上と、分子の広がりの指標となる慣性半径の情報が得られます。
角度固定で測定する際は、推定される慣性半径を入力することで角度依存測定に相当する補正をおこない、分子量の測定精度を向上させることができます。

 

**ビリアル係数とは

溶媒中での分子間の斥力と引力の度合いを示し、溶媒の分子に対する親和性や結晶化の目安となります。

  • A2が正の場合、親和性が高い良溶媒で、分子間の斥力が強いため、安定に存在しやすくなります。
  • A2が負の場合、親和性は低い貧溶媒で、分子間の引力が強いため、凝集が起こりやすくなります。
  • A2=0の場合の溶媒をシータ溶媒、また温度をシータ温度と呼び、斥力と引力が釣り合った状態で、結晶化が起こりやすくなります。





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