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  • 产品名称:OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000AS

  • 产品型号:FPAR-1000AS
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径 FPAR和自动取景器的组合中,关于50检体的试料,可以进行粒子直径的自动测量。 样品量为1ml,可以使用廉价的电筒进行测量。 OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-100
详情介绍:
FPAR-1000AS

   OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径

FPAR和自动取景器的组合中,关于50检体的试料,可以进行粒子直径的自动测量。
样品量为1ml,可以使用廉价的电筒进行测量。

特长:

通过使用自动取款机,可以自动连续测量试料50个。

从稀薄的溶液到浓厚溶液,可以测量在广泛的浓度范围内的高速、高精度的粒子径、粒子直径分布(粒径、粒径分布)。

在研究·质量管理的广泛用途上使用微粒子特有的分散、凝集过程的功能等。

根据新开发的测量程序,对应于浓厚溶液中高精度的粒子直径测量。

将样本温调、超声波洗净等所有必要的功能全部内置的A3尺寸的紧凑设计。


測定項目
粒子径
3 nm ~ 5000nm
1 nm ~ 5000nm (高感度仕様)
キュムラント平均粒子径
ヒストグラム平均粒子径(D50)(高感度仕様)
分布解析
CONTIN法
MARQUARDT法
NNLS法
CUMULANT法

 

対応濃度範囲
(標準ラテックス
204nm の場合)
0.001 ~ 10 %
濃厚系プローブ(標準)
0.01 ~ 10 %
希薄系プローブ(オプション)
0.001 ~ 0.01 %



应用领域

色材工业中的颜料・墨水的分散・凝集控制·粒子径管理。

陶瓷拉拉力的分散・凝集控制、分散剂效果

半导体领域的研磨粒子的粒子直径管理

高分子·化学工业中的艾玛约翰、拉特克斯的分散凝集控制、粒子直径管理

医药品・食品乙醇的分散・凝集控制、利波索等粒子直径管理

光催化(氧化钛)粒子的分散状态管理


FPAR-1000仕様
光源 半導体レーザー
検出器 光電子増倍管(フォトンカウンティング方式)
サンプル温調範囲 10 ~ 70℃
温調方式 電子式冷却素子、ヒーター
プローブ洗浄方式 超音波洗浄
電源 AC100V ± 10%50/60Hz 300VA
寸法(WDH) 320(W)×507(D)×284(H)
重量 約 22 kg

 

 

オートサンプラー仕様

サンプルバイアル 円筒形セル(蓋つき)
サンプル容量 1 ~ 2.5 ml
サンプルバイアル数 一度に 50本 まで搭載可能
温調 ヒータ・ペルチェ方式
サンプル温調範囲 15~40℃
測定濃度範囲 0.001% ~ 10% (FPAR-1000と接続時)
OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000AS


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