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产品详情
简单介绍：
OPTM series
OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM series
详情介绍：
OPTM series
OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计
利用显微分光的微小领域的**反射率测量，高精度的膜厚·光学常数解析可能的装置。
各种薄膜、晶片、光学材料等涂层膜的厚度和多层膜可以非破坏、非接触测量.。测定时间是能够进行1秒/point的高速测定的，即使是初次测定的，也搭载了能够简单解析光学常数的软件。
特长：
OTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM seriesOTSUKA大冢- 显微分光膜厚计OPTM series
将膜厚测量所需的功能集中在头部！
高精度的**反射率测量（多层膜厚，光学定数）
1点1秒以内的高速测量
在显微镜下实现广阔的测量波长范围的光学系统（紫外线-近红外线）
区域传感器的**机构
即使是**次进行光学定数解析的轻松解析危机
可定制测量序列的宏功能
对应各种定制
仕様
仕様
構成図
自動XYステージタイプ
測定項目
- 絶対反射率測定
- 膜厚解析
- 光学定数解析（n：屈折率、ｋ：消衰係数）
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