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  • 产品名称：OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
OTSUKA大冢-线扫描膜厚计 在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。 通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
详情介绍：

   OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。
                                               通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01                                                   秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。



特长OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计

通过采用线扫描方式实现没有“脱落”的全长和全长胶卷检查

硬软件一起设计原创设计

因为是膜厚测定的专门制造厂，所以能够充实的支持

高精度测量（取得砖利）

高速可以测量

强制性强

宽的样本（可以在TD方向*大10m测量）


フィルムの幅に合わせて検出器を増設可能（MAX10m）


仕様

測定項目 膜厚（FFT）
位置分解能 1mm
測定幅 500mm
波長範囲 400 ～ 920nm
1素子当たりの波長幅 約 0.6nm
膜厚測定範囲 2 ～ 250μm
測定間隔 10msec ～

測定例

500mm幅の包装用フィルムの場合

1ライン分の測定画像から1ポイントの分光スペクトルを取り出し、分光スペクトルをFFT解析

 

解析結果例：ソフト画面
 


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