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  • 产品名称:OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50

  • 产品型号:RH50
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。 与光学模拟软件的联合是可能的,可以简单地高速取得2π空间全方位的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
详情介绍:

RH50
   OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统

对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。
与光学模拟软件的联合是可能的,可以简单地高速取得2π空间全方位的光线。50×50mm尺寸以上请看GP-7 series。

特 长

·这台机器可以与光学模拟软件协作。
·超高速测定样品本来的配光特性。*短17分钟!
·容易花费时间的样品设置既简单又简单。
·因为样品在静止状态下可以测定,所以点灯姿势不变。
节省空间的幻灯片,让您在桌面上也能轻松工作

サンプル設置がしやすい大開口
 

■ 光学シミュレーションソフトとの連携が可能

実測データを各種光学シミュレーションソフトで利用可能な形式にコンバートできます
例えば、LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProなど
※LightTools、ZEMAX、ASAP、TraceProは、他社の商標/trademarkです

光線データ、光源とレンズによる効果をシミュレーション
【 POINT 】 距離ごとの照度分布の違いをそれぞれ試作前に把握することができる

 

■ 超高速測定

【お悩み】サンプル本来の詳細な配光特性を知りたいが、
測定時間が長くなるので光線を間引いて測定していた

【理想】間引かず測定→【現実】間引いた測定

【RH50なら】 短時間で配光特性の詳細を知ることができる

<従来> 2400分 → <RH50> 17分 約1/140短縮

2π空間全方位の光線を取得(サンプル本来の配光特性を知ることが出来る)

 

■ かんたん位置合わせ

数μmのズレでも自動ステージで楽々調整

(従来)手動で調整のため手間 → (RH50)クリックするだけ

 

■ 測定時サンプル静止

検出器が2軸駆動で測定中にサンプルを動かさなくて良い機構

【 POINT 】
・破損のリスクなし
・断線しない
・点灯位置が変動しない

(従来)断線や破損のリスク → (RH50)サンプルは動かさない

仕 様
 型式  高速ニアフィールド配光測定システム RH50
 サンプル設置サイズ  直径 50mm 以下
 測定エリア  50 × 50 mm
 装置サイズ  W620 × D720 × H866 mm
 測定時間  17分 *1
 測定角度範囲と間隔  X:±130°、Y:±90°、*小0.1°間隔
 検出器  二次元センサー(紫外、可視、近赤外タイプ)
 測定項目  紫外・近赤外タイプ:光線データ *2、配光 *2
 可視タイプ:輝度光線データ、配光、照度、光度、全光束

*1:条件 X:±90°、Y:±90°、測定間隔 1°間隔で測定
*2:相対強度によるデータ 

マイクロLED測定例

たった1回の測定であらゆる解析ができます

任意の距離から見た輝点・減点が確認できます。
意図した光が出ているか、または意図していない光り方になっていないかが見てわかります。

照度分布・3D配光特性・2D配光特性・相対輝度分布(正面)・相対輝度分布(ななめ45°)

ニアフィールド配光測定とは

複数の点ごとにデータが取得できるニアフィールド配光測定

全方位の光線を取得。一回の測定で2π空間の光線を取得

【ニアフィールド】面光源とみなして測定。発行点ごとに配光データがある。用途:製品開発用の工学設計 【ファーフィールド】点光源とみなして測定。配光データは1つ。用途:カタログデータ

 

ニアフィールドとファーフィールドの比較表

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