产品详情
简单介绍：
RETS series
OTSUKA大冢-单元间隙检查设备
从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应
OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
详情介绍：
QE-2000QE-5000OTSUKA大冢-单元间隙检查设备
从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应
OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
特长
采用偏振光光系统和多通道分光检测器。
从1mm尺寸的光学元件到第10代的大型基板，各种尺寸。
支持的设备列表。
通过**措施和粒子对策，应对液晶线内的检查设备。
测量项目
填充单元间隙。
扭曲角*。
拉杆角*。
前倾角[TN，IPS，FFS，MVA]*。
空单元格间隙*。
修复(双折射相位差)的波长分散*。
光学轴*。
椭圆值/方位角*。
三维折射率/Rth/β*。
光谱/色度*
测量主题
液晶单元。
-透明、半透明液晶单元(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、铁电)。
-反射液晶屏(TFT、TN、IPS、VA)。
光学材料。
-其他(相位差、椭圆、偏振片、液晶材料)
仕 様
| 型式 | RETS series |
| サンプルサイズ | 20mm×20mm ～ * |
| セルギャップ測定範囲 | 0.1μm ～ 数10μm |
| セルギャップ繰り返し性 | ±0.005μm |
| 検出器 | マルチチャンネル分光光度計 |
| 測定波長範囲 | 400nm ～ 800nm |
|
光学系 透過用偏光子ユニット |
偏光光学系 消光比 10-5グラントムソンプリズム内蔵 自動回転（角度精度0.1°）、自動脱着機構 |
| 測定スポット径 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
| 光軸傾斜機構 | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
* 大型ガラス基板にも対応可能（2000mm×2000mm以上）
測定例
リタデーション（複屈折位相差）の波長分散とセルギャップ値
ギャップ面内分布データ
