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  • 产品名称:OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700

  • 产品型号:FE-3700
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
FE-3700 OTSUKA大冢-膜厚测量系统 OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700
详情介绍:
FE-3700
     OTSUKA大冢-膜厚测量系统

特 長:

可以快速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数.。为大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有机EL提供支持。

OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700OTSUKA大冢-膜厚测量系统FE-3700


用 途
  • LCD
    ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass
  • TFT
    SiN/a-Si/Glass
  • 有機EL
    有機EL/ITO/Glass
  • PDP
    誘電体層/Glass


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