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  • 产品名称:日本大冢高速LED光学特性仪

  • 产品型号:LE-SERIES-LE-5400
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光学特性仪 LE-SERIES-LE-5400
详情介绍:

高速LED光学特性仪 LE SERIES


高速LED光学特性仪 LE seriesLED的光学特性评价可同产线的控制信号同步,能在线高速运行的装置。
LE-5400提供NG判定或级别分类等品质管理所必要的光学特性信息

 

 

 

  

 

 

 

 

 

产品信息

特 点

• 与产线的控制信号同步
• 通过光纤的自由的测试系统
• 实现*短2ms~的光谱测量(LE-5400)
• 同以往的产品相比,测量・演算・评价1个周期有可到半分钟以下的高速机型 

测量项目

三刺激值(kX, kY, kZ)*

〔JIS Z 8724〕

色度坐标(u, v)

〔CIE 1960UCS〕

色度坐标(x, y)

〔JIS Z 8724〕

色度坐标(u', v')

〔CIE 1976UCS〕

主波长(Dominant)和刺激纯度(Purity)

〔JIS Z 8701〕

相关色温度和Duv

〔JIS Z 8725〕

演色性评价数(Ra, R1~R15)

〔JIS Z 8726〕

峰值(λmax)的波长、高度、半值幅

 

**峰值的波长和高度

 

积分值(Summation)

 

重心波长

 

指定波长的高度

 

相比峰值波长的短波长侧、长波长侧的积分值

 

* 亮度(kY)的值,因测量的LED和检出部的光学系不同,
 只有在校准(距离、位置、方向)中有再现性时才算有效。

规格式样

LE-Series

分光方式

光柵分光 F=3 f=135 mm

感光元件

CCD    (电子制冷)

测量波长范围

380    ~ 960 nm

300    ~ 800 nm

330    ~ 1100 nm

350    ~ 930 nm

波长精度1

±0.3    nm2

±0.3    nm2

±0.5    nm2

±0.3    nm2

光纤规格3

长约2m,金属包覆,固定口径约12mm,
     与LED间的距离通常为2 ~ 8mm左右(视LED指向性而不同)

功率

*大100VA

尺寸

280(H) × 296(D) × 160(W)mm

重量

约10kg

※1波长校正用光源对汞物理辉线之确认值。
※2JIS Z 8724规格。
※3可变更光纤尺寸、长度

设备构成

 LE_01.jpg

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