产品中心
产品详情
  • 产品名称:Otsuka大塚内置膜厚监测仪

  • 产品型号: 大塚内置膜厚监测仪
  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
  • 产品价格:0
  • 折扣价格:0
  • 产品文档:
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍:
Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪
详情介绍:

内置膜厚监测仪

高度**地测量与波长相关的多层薄膜!




  • 产品资讯
  • 设备配置
  • 测量例

产品资讯

特殊长度
  • 使用光谱干涉法的膜厚计
  • 配备高精度FFT膜厚分析引擎?(**号4834847)
  • 可使用光纤构建免费的测量系统
  • 可纳入各种制造设备
  • 可以实时测量膜厚
  • 支持远程操作和多点测量
  • 使用长寿命,高度稳定的白色LED光源

 

测量项目
  • 膜厚

 

用法
  • 光学膜(硬涂层,AR膜,ITO等)
  • 与FPD有关(抗蚀剂,SOI,SiO 2等)
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

苏公网安备 32050502000409号