产品中心
产品详情
查看大图

  • 产品名称：高速相位差测量仪RE-200

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
  • 产品价格：0
  • 折扣价格：0
  • 产品文档：
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍：
高精度控制光轴！3σ≤0.02°用于 低延迟测量
详情介绍：
特殊长度
  • 可以从0 nm开始进行低（残留）延迟测量
  • 可以与光轴检测同时进行延迟（Re。）的高速测量（
    可以在0.1秒或更短的时间内完成处理，这相当于世界上*快的速度）。
  • 由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
  • 易于测量，只需设置很少的测量项目
  • 除了550 nm的测量波长外，我们还有各种波长的产品系列。
  • 可以进行Rth测量和全向测量
    （需要可选的自动旋转倾斜夹具）
  • 通过与拉伸测试仪结合使用，可以与薄膜的偏振特性同时评估光弹性
    （该系统是定制的）。

 

测量项目
  • 参考（ρ[°]，Re [nm]）
  • 主轴方位角（θ°）
  • 椭圆率（ε）/方位角（γ）
  • 三维折射率（NxNyNz）

 

测量目标
  • 相差膜，偏光膜，椭圆膜，视角改善膜，各种功能膜
  • 透明和各向异性的物质，例如树脂和玻璃（玻璃中的应变，变形等）

 

  • 产品信息
    •  
  • 原则
    •  
  • 规格
    •  
  • 测量例
点击此处，从网站上查询有关该产品的信息

相关信息

相关产品

相差膜/光学材料检查装置RETS-100

反射光谱膜厚仪FE-3000

膜厚计FE-300

光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S

多通道光谱仪MCPD-9800 / 6800

量子效率测量系统QE-2000 / 2100
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

苏公网安备 32050502000409号