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  • 产品名称：参考测量仪RETS-100nx

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。 实现与超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度测量。 可以“非破坏性地不剥离”地测定膜的层叠状态。 此外，它配备了简单的软件和校正功能，可支持由于样品重新定位而导致的未对准，从而实现了简单而高度**的测量。
详情介绍：
特殊长度
高精度测量只能通过独特的光谱仪完成

■高精度


多高精度由波长测量实现
λ/ 4，λ/ 2之类的难以在短波长下测量的结果可以作为近似值获得。 可以不受膜厚干扰波形的影响而获得结果。
<确切原因>
的，专有的高性能的多通道光谱仪使用
它可以得到多的信息传输，可实现高**度的测量
（获得透射率信息是约500米的波长，约50倍的其他公司的产品）

 

■宽广的测量范围（保留范围：0至60000 nm）

■宽广的测量范围即使强度相同，也可以根据其他波长数据进行计算。

 

■了解延迟波长色散形状

■可以测量显示出延迟波长色散形状的反向色散样本。

 

超高延迟测量-超双折射膜的高速高精度测量-

■高延迟
■高延迟测量即使具有如此高的延迟，也可以使用独特的算法在没有参数的情况下进行分析。
超高Re.60000nm兼容

 

多层测量-各种膜的层压状态的无损和无损测量，不剥离-

多层测量无需剥离，可以按原样进行测量

 

车轴角度校正功能-即使样品安装未对准，也可轻松，轻松地进行测量-

■
更换样品10次，并比较有无角度校正的结果[样品：相差膜R85]

放置样品10次，并在有和没有角度校正的情况下比较结果。无校正：由于重新定位而引起的变化：0.13，具有校正：由于重新定位而引起的变化：0.013以下

 

简单的软件-大大减少了测量时间和处理时间。大大提高了可操作性-

简易软件所有操作均可在一个屏幕上完成！

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