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  • 产品名称：线扫描膜厚仪[离线型]

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均，以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。 可以高速且高精度地测量整个表面。
详情介绍：
特殊长度
  • 可以检查薄膜的面内薄膜厚度不均等
  • 可以高速，高精度地测量整个表面
  • 只能由专门从事膜厚测量的制造商提供的**支持
  • 通过分光光度法进行高精度的膜厚测定
  • 硬件和软件的原始设计

 

线扫描图像
即时分析300毫米见方的光谱数据，以进行**的不均匀检查和膜厚测量

 

电影
 
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