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  • 产品名称：显微光谱 OPTM Otsuka大冢苏州售

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
它是一种通过使用显微光谱测量微小区域内的优良反射率，实现高精度膜厚和光学常数分析的设备。 可以以非破坏性和非接触的方式测量各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等镀膜的厚度。可进行1秒/点测量时间的高速测量。它还配备了软件，即使是初学者也可以轻松分析光学常数。
详情介绍：
  • 膜厚测量所需的功能集成在头部
  • 使用显微光谱进行高精度优良反射率测量（多层膜厚度、光学常数）
  • 1点1秒内高速测量
  • 在微观条件下（紫外到近红外）实现宽测量波长范围的光学系统
  • 区域传感器的**机制
  • 简单的分析向导，即使是初学者也能分析光学常数
  • 配备宏功能，可让您自定义测量顺序
  • 可以分析复杂的光学常数（多点分析法）
  • 兼容 300mm 载物台
  • 支持各种自定义
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