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  • 产品名称：量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
详情介绍：
  • 可即时测量优良量子效率（优良量子产率）
  • 可去除再激发荧光发射
  • 采用积分半球单元，实现明亮的光学系统。
  • 低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光
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