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  • 产品名称:单粒子荧光诊断系统Osuka大冢

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  • 产品厂商:OTSUKA大塚电子
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简单介绍:
可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
详情介绍:
  • 一种高灵敏度系统,可以测量一个荧光粉粒子的荧光特性。
  • 从1个粒子的提取到测量的系统化
  • 可测量 10 μm 颗粒
  • 可以进行从室温到 600°C 的温度相关测量
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