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  • 产品名称：OTSUKA大塚电子 zeta 电位仪

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
除了常规的 zeta 电位和粒度测量外，它是一种可以测量分子量的设备，可通过稀溶液至浓溶液进行测量。 支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量为 130 μL 或更大的一次性样品池进行测量，通过实际测量电渗流来实现高精度的 zeta 电位测量。 此外，通过在0～90°C的宽温度范围内进行自动温度梯度测量，可以进行变性/相变温度分析。
详情介绍：
特长
  • *新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间
  • 通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析
  • 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量
  • 增加了广泛的分子量测量和分析功能
  • 支持悬浮高浓度样品的粒径和 zeta 电位测量
  • 测量电池中的电渗流，并通过绘图分析提供高度准确的 zeta 电位测量结果。
  • 支持高盐浓度溶液的zeta电位测量
  • 支持小面积样品的平板zeta电位测量

 

用途

非常适合在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、医药、医药等领域中，不仅涉及微粒子，而且还涉及薄膜、平板等表面科学的基础研究和应用研究。

  • 新型功能材料领域
    燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能薄膜、催化剂、纳米金属）生物纳米
    相关（纳米胶囊、树枝状大分子、DDS、生物纳米颗粒）、纳米气泡等。
     
  • 陶瓷/着色材料 工业领域
    陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）
    表面改性/分散/无机溶胶的聚集控制
    颜料（炭黑/有机颜料）的分散/聚集控制
    浆料样品
    滤色器
    捕获漂浮的选定矿物 研究关于集料吸附
     
  • 半导体领域
    硅片表面异物附着机理阐明
    研磨剂和添加剂与硅片表面的相互作用研究
     CMP浆料
     
  • 高分子/化工领域
    乳液（油漆/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业用）
    聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究，功能性纳米颗粒
    纸/纸浆造纸工艺控制和纸浆添加剂研究
     
  • 医药/食品工业领域 
    乳液（食品/香料/医药/化妆品）分散/聚集控制，蛋白质功能
    脂质体/囊泡分散/聚集控制，表面活性剂（胶束）功能
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