Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型该设备可离线轻松进行表面厚度不均匀性检测，用于薄膜等的研发和质量控制的抽查。整个表面可以快速、高精度地测量。

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特点

可以检查薄膜等面内膜厚不均
高速、高精度地测量整个表面
由于我们是薄膜厚度测量的专业制造商，我们可以提供全面的支持
通过光谱测量实现高精度薄膜厚度测量
硬件和软件的原始设计

线扫描图像
即时分析 300mm 方形光谱数据，实现整个不均匀检测和薄膜厚度测量

规格

測定範囲	0.7～300 μm
測定幅	250 mm
測定間隔	10 ms～
装置サイズ(W×D×H)	459×609×927 mm
重量	60 kg
消費電力	AC100 V±10% 125 VA

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