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  • 产品名称：OTSUKA大塚 超快光谱干涉仪测厚仪

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司代理OTSUKA大塚 超快光谱干涉仪测厚仪
详情介绍：


特征
  • 非接触式、非破坏性厚度测量
  • 反射光学元件（可从一侧接触进行测量）
  • 高速（*快5kHz）和实时评估
  • 高稳定性（重复精度0.01%以下）
  • 耐粗糙
  • 可在任何距离使用
  • 支持多层结构（*多 5 层）
  • 内置NG数据抑制功能

 

 

特点1：用我们自己的技术

它支持广泛的薄膜厚度范围，并实现高波长分辨率。
大冢电子的独特技术被封装在一个紧凑的机身中。

 

特点2：高速响应

由于它甚至可以以**的间距进行测量，即使是移动的测量对象，
它也是工厂生产线的理想选择。

 

特点3：与各种表面条件的样品兼容

通过约φ20μm的微小光斑，即使在各种表面条件下也可以
测量厚度。

 

特点4：兼容各种环境

由于可以从*远200 mm的距离进行测量，因此可以根据目的和应用构建
测量环境。




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