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  • 产品名称：OTSUKA大塚 线扫描胶片测厚仪

  • 产品型号：
  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚 线扫描胶片测厚仪OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo
详情介绍：


产品信息

特征
  • 采用线扫描方式实现无“遗漏”的全表面薄膜检测
  • 可由专门从事薄膜厚度测量的制造商提供的**支持
  • 高速高精度测量
  • 使用抗颤振的光学系统
  • 宽样品（TD 方向可达 10 m）
  • 硬件和软件的原始设计

 

探测器可根据薄膜宽度进行扩展（*大10m）
即时分析500mm薄膜厚度数据，实现全宽测量。

规范

薄膜厚度范围 0.7~300微米
测量宽度 500 mm~*大 10 m
测量间隔 10毫秒~
设备尺寸（宽×深×高） 81×140×343 毫米
重量 4 公斤（仅头部）
*大功耗 交流100 V±10% 125VA





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