OTSUKA大塚嵌入式膜厚监测仪|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品名称：OTSUKA大塚嵌入式膜厚监测仪
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产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

塔玛萨崎电子（苏州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo OTSUKA大塚嵌入式膜厚监测仪

详情介绍：

测量示例

硬涂层膜厚分析

特征

使用光谱干涉测量的薄膜测厚仪
搭载高精度FFT薄膜厚度分析引擎（砖利第4834847号）
光纤可以自由地构建测量系统。
可集成到各种制造设备中
可进行实时薄膜厚度测量
支持远程操作和多点测量
采用长寿命、高稳定性白光LED光源

测量项目

薄膜厚度

用法

光学膜（硬涂层、AR膜、ITO等）
FPD相关（抗蚀剂，SOI，SiO₂等）

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