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  • 产品名称：OTSUKA大塚 江苏代理显微分光膜厚仪OPTM SERIES

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  • 产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：
塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚 显微分光膜厚仪OPTM SERIES 测量各种薄膜，晶圆，光学材料等涂层薄膜的厚度，以及多层薄膜的厚度，而不会具有破坏性和非接触性。
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司江苏代理OTSUKA大塚 显微分光膜厚仪OPTM SERIES 测量各种薄膜，晶圆，光学材料等涂层薄膜的厚度，以及多层薄膜的厚度，而不会具有破坏性和非接触性。 


OTSUKA大塚显微分光膜厚仪OPTM SERIES

OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的**代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量**反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度高。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。

产品特点：

·非接触非破坏式测量

·高速拍摄自动对焦，1秒即可得到结果

·波长范围广（紫外-近红外），可测量厚度或颜色不同的各种薄膜

·操作简单，无经验也可轻松解析光学常数

·开放而**的操作台，光栅传感器触发停止，避免损伤。

产品参数：


OPTM-A1 OPTM-A2 OPTM-A3
波長範圍 230 ~ 800 nm 360 ~ 1100 nm 900 ~ 1600 nm
膜厚範圍 1nm ~ 35μm 7nm ~ 49μm 16nm ~ 92μm
測定時間 1秒 / 1點

光徑大小 10μm (*小約5μm)

感光元件 CCD InGaAs
光源規格 氘燈+鹵素燈 鹵素燈
電源規格 AC100V±10V 750VA（自動樣品台規格）

尺寸 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品台規格之主體部分)

重量 約 55kg（自動樣品台規格之主體部分）




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