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产品详情
简单介绍:
MITAKA三鹰光器微透镜阵列(MLA)
形状光学表征设备
它配备了NH系列的所有基本形状测量功能,可以测量透镜和模具的横截面形状,并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。
详情介绍:
MITAKA三鹰光器长处
通过高精度图像处理可以评估镜头的光学特性
评估项目 : 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同时测量多个微透镜阵列 (MLA)
使用如下所示的测量光学系统用显微镜镜头放大平行光的集中图像(针孔狭缝图像),并由CCD相机捕获图像。 通过对图像进行图像处理来评估镜头的光学特性。
矩阵创建软件
专用矩阵测量软件可记忆阵列模式,实现平滑的自动测量。
它是MLA研发和质量控制的理想选择,这些研发和质量控制变得越来越大。
它是MLA研发和质量控制的理想选择,这些研发和质量控制变得越来越大。
MITAKA三鹰光器诺马斯基微分干涉观测
NH的显微镜部分可以配备诺马斯基微分干涉光学元件。
该光学系统可直观地捕获普通明场光学系统无法观察到的数十Å的表面粗糙度和划痕,并可以使用激光探头在现场进行定量粗糙度和阶梯测量。
该光学系统可直观地捕获普通明场光学系统无法观察到的数十Å的表面粗糙度和划痕,并可以使用激光探头在现场进行定量粗糙度和阶梯测量。
测量功能
使用激光探头测量透镜形状测量
・曲率半径、中心坐标值
、圆度、顶点高度、XY坐标、横截面
、3D形状测量、各透镜表面的表面粗糙度
测量
、圆度、顶点高度、XY坐标、横截面
、3D形状测量、各透镜表面的表面粗糙度
测量
光学表征通过图像处理测量
・有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各镜头的集光位置
、错位、各镜头的对焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的图像形成评估(彗差、畸变等)、
景深(可选)
・MTF测量(可选)
、错位、各镜头的对焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的图像形成评估(彗差、畸变等)、
景深(可选)
・MTF测量(可选)
MITAKA三鹰光器规范
运动范围(X、Y、Z、AF)
100, 100, 100, 10毫米
X-Y 轴刻度分辨率
0.1微米
自动对焦轴刻度分辨率
0.01微米
测量原理
点自动对焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 输出,1mW 或更低
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