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DeltaFlex

全自动模块化荧光寿命光谱仪
兼具高性能和灵活性的荧光寿命测试系统,可利用时间相关单光子技术(TCSPC)测试方法,快速有效地采集荧光寿命数据
DeltaFlex 全自动模块化荧光寿命光谱仪是我们的Delta系列新一代时间相关单光子计数荧光寿命测试仪器之一,其可提供*大的灵活性。
该系统可实现跨越11个数量级的发光寿命测试,且无需更换线缆或板卡。其核心是DeltaHub电子计时设备,它提供几乎无损的计数,能够实现从25ps到1s时间范围的寿命测试。DeltaFlex由HORIBA高脉冲频率光源、高灵敏度探测器及超低死时间的电子计时单元组成,能够快速、高效地采集荧光寿命数据。
全新的F-Link总线设计使得模块化简单易行,系统能够自动检测到添加到仪器中的任意组件,并且可以实现控制软件自动控制。
随着生物探针和光伏等应用领域逐渐扩展到近红外区域,因此实现近红外区域的时间分辨测试非常重要。DeltaFlex可与多种近红外探测器结合,为近红外时间分辨测试提供解决方案。
DeltaFlex系统由可替换的DeltaDiode激发光源、DeltaHub电子计时单元和PPD皮秒检测器组成。可通过增加激发和发射单色仪实现波长选择,从而可实现时间分辨荧光光谱(TRES)等的全光谱寿命采集。TDM-800 单色仪可提供低时间色散。系统配备带有数字温度传感器和磁力搅拌器的样品架。
- 高脉冲频率激光光源和PPD检测器可实现低至25ps的荧光寿命测量
- 每秒高达1000次的时间相关单光子计数(TCSPC)测量技术,非常适合动力学研究
- 搭配单色仪实现波长选择
- 覆盖紫外到近红外波长范围的DeltaDiodes脉冲激发光源可供选择。有关完整详细信息请参阅 DeltaDiode页面
- SpectraLED光源可用于获取更长的发光寿命(微秒到秒),且提供紫外到近红外波长范围光源选择
- 可升级到基于单色仪的NIR系统(DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R)
- 通过F-Link模块轻松添加附件
- 综合软件包
- 测量模式
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- 荧光寿命25ps到1s
- 动态时间相关单光子计数(TCSPC)方法,可连续测量1毫秒内1~10000次衰减,直到1 分钟内1次衰减。
- 各向异性测试, 解卷积以分辨更短的旋转相关时间
- 时间分辨发射光谱 (TRES),可一次采集多达100个波长的寿命衰减曲线
- 稳态光谱测量